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可靠性
建成石英晶体元器件环境与周期实验室。实验室可开展晶体元器件的性能试验、力学试验、环境试验和可靠性试验。

测试项目 实验范围 设备名称 设备照片
低温存储 晶体在温度-40℃±2℃中放置 500±12 小时 高低温试验箱
交变/恒定湿热试验 晶体在温度 85℃±3℃,湿度 85%条件下放置 500 小 时 高低温交变湿热试验箱
盐雾试验 5%NaCL 溶液,连续喷雾 48H
试验温度:35℃±2℃
盐雾腐蚀试验箱
高低温冲击试验 1、低温:-55±3℃
2、保持时间:30min
3、高温:+125±3℃
4、保持时间:30min
5、转换时间≤60s
6、循环次数:10 个
高低温冲击试验箱
跌落试验 1、跌落:晶体从 150 厘米高度自由下落至 3 厘米硬木板,重复 3 次
2、微跌:15cm,1万2千次
3、滚筒:1M 高度(晶体焊接在PCB上)滚筒跌落300次,跌落面为3±0.1mm。
跌落试验机
微跌机
滚筒机
振动试验 1、振动频率:10~2000Hz
2、振幅:1.52mm
3、扫描时间:20 min
4、方向:X、Y、Z(三个方向各2小时)
电动振动台
碰撞(冲击)试验 半正弦波冲击:1000G 持续时间:0.5ms X、Y、Z三个轴向各3次 冲击碰撞试验台
高温存储 晶体在温度+125℃±2℃中放置 500±12 小时 电热恒温鼓风干燥箱
温度特性试验 1、温度变化范围:-55℃~+125℃ 测试参数同250B。
2、升降温度速率、测试温度间隔可任意设置。
晶体温度特性测试仪
可焊性试验 1、焊接温度:245℃±5 ℃
2、浸入深度:距产品本体最小 0.5 mm
3、浸入时间:3 秒±0.5 秒
4、助焊剂:松香树脂甲醇溶剂( 1 : 4 )
无铅熔锡炉
细漏 1、最小可检漏率:<5×10-12P·m3/s
2、测量范围:5×10-12~1Pa·m3/s
3、允许检漏口****压强:1000Pa
氦质谱检漏仪
引出端强度、尺寸检查 拉力范围:5N、10N、20N 游标卡尺、砝码
RoHS 检测 1、六价铬及其化合物
2、镉及其化合物
3、铅及其化合物
4、汞及其化合物
能量色散X荧光光谱仪
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